因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.粒径分布：采用动态光散射（DLS）与透射电镜（TEM）测定D10/D50/D90值及多分散指数（PDI），范围1-100nm

2.元素纯度：通过ICP-OES/MS测定铜含量≥99.9%，重金属杂质总量≤100ppm

3.形貌分析：SEM/TEM观测球形/线状/片状结构占比及长径比偏差≤15%

4.表面电荷：Zeta电位仪测定-30mV至+30mV区间值

5.比表面积：BET法测试20-200m/g范围孔隙结构

检测范围

1.电子级纳米铜导电浆料（印刷电路板用）

2.抗菌涂层用纳米铜分散液（医疗器材表面处理）

3.催化剂载体材料（燃料电池电极基材）

4.高分子复合材料增强相（航空航天结构件）

5.生物医用纳米铜标记物（肿瘤靶向诊疗制剂）

检测方法

1.ASTME2490-2021激光衍射法测定粒径分布

2.ISO11885:2007电感耦合等离子体发射光谱元素分析

3.GB/T23413-2009纳米材料晶型X射线衍射分析法

4.ISO13099-2012胶体体系Zeta电位测定技术规范

5.GB/T19587-2017气体吸附BET法比表面积测试

6.ASTME2865-2018扫描电镜定量形貌统计方法

检测设备

1.MalvernZetasizerNanoZS：动态光散射与Zeta电位同步分析系统

2.FEITecnaiG2F20场发射透射电镜：0.14nm分辨率形貌成像

3.ShimadzuICPE-9820等离子体发射光谱仪：ppb级元素定量分析

4.MicromeriticsASAP2460比表面及孔隙度分析仪：0.35-500nm孔径测量

5.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：Cu靶Kα射线源物相鉴定

6.HitachiSU8010冷场发射扫描电镜：1nm分辨率三维形貌重构

7.HORIBALB-550动态光散射粒度仪：0.3nm-6μm粒径测量范围

8.NetzschSTA449F3同步热分析仪：TG-DSC联用纯度测定

9.Agilent7890B气相色谱仪：表面有机残留物检测

10.MettlerToledoSevenExcellencepH计：悬浮液稳定性监测系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。