因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.介电常数温度特性：测量频率1kHz-1MHz范围内介电常数随温度（-60℃~300℃）的变化曲线

2.介质损耗角正切（tanδ）：在10Hz-10MHz频段内记录损耗因子温度依赖性

3.阻抗谱分析：扫描频率范围0.1Hz-15MHz，温度步进精度0.5℃

4.击穿场强温度特性：直流/交流击穿测试（0-50kV），温控范围-40℃~200℃

5.极化-去极化电流：测量时间域电流响应（1s-1000s），温度分辨率0.1℃

检测范围

1.电子陶瓷材料：钛酸钡基陶瓷、锆钛酸铅（PZT）压电材料、微波介质陶瓷

2.高分子绝缘材料：聚酰亚胺薄膜、环氧树脂复合材料、硅橡胶

3.铁电/反铁电材料：PLZT透明陶瓷、铌酸锂单晶、钛酸锶钡薄膜

4.储能电容器介质：双向拉伸聚丙烯（BOPP）、聚苯硫醚（PPS）薄膜

5.半导体封装材料：模塑料（EMC）、底部填充胶（Underfill）、晶圆级封装介质层

检测方法

1.ASTMD150-18：固体电绝缘材料交流损耗特性和电容率标准试验方法

2.IEC60250：测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下相对介电常数和介质损耗因数的推荐方法

3.GB/T1409-2006：测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下相对介电常数和介质损耗因数的试验方法

4.ISO6721-2:2019：塑料-动态机械性能测定第2部分：扭摆法

5.GB/T1693-2007：硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

检测设备

1.NovocontrolAlpha-A高频介电谱仪：频率范围1μHz-20MHz，温度范围-160℃~400℃

2.Agilent4294A精密阻抗分析仪：40Hz-110MHz测试带宽，基本精度0.08%

3.KeysightE4990A阻抗分析仪：20Hz-120MHz频率范围，支持多温度点自动扫描

4.LinkamTS1500温控系统：升温速率0.01~150℃/min，控温稳定性0.1℃

5.TREK610E高压放大器：输出电压范围0-20kV，频率响应DC-5kHz

6.Keithley6517B静电计：测量分辨率0.1fA，支持10^17Ω高阻测量

7.FLUKE1503A绝缘测试仪：测试电压50V-1000V，电阻量程0.01MΩ~2TΩ

8.HIOKIIM3570阻抗分析仪：4Hz-5MHz宽频测量，支持五端法接线模式

9.MettlerToledoDSC3差示扫描量热仪：同步分析介电性能与相变温度关联性

10.Labsphere积分球光谱系统：配合介电测试进行光学特性关联分析

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。