因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.元素成分分析：测定材料中C、O、N等元素的含量范围（0.01ppm-100%），精度0.05wt%

2.化学结构鉴定：识别C-C/C-O/C=O等官能团特征峰（波数范围400-4000cm⁻）

3.晶体结构表征：测定晶面间距（0.1-10nm）及晶格常数（误差≤0.0001nm）

4.表面化学态分析：解析XPS结合能（分辨率≤0.1eV）及Auger参数

5.分子振动模式分析：获取拉曼位移（50-3500cm⁻）及偏振特性

检测范围

1.金属材料：铝合金中Mg/Si元素分布、不锈钢表面氧化层厚度（10-500nm）

2.高分子材料：PE/PP共聚物结晶度（20-80%）、橡胶硫化程度分析

3.半导体器件：硅片掺杂浓度（1E15-1E20atoms/cm）、GaN薄膜应力分布

4.医药成分：API晶型鉴别（I/II/III型）、辅料羟基含量测定

5.地质样品：石英中Al替代量（0.1-5%）、方解石Mg/Ca比值

检测方法

1.X射线光电子能谱法（XPS）：ASTME2108-16,GB/T29556-2013

2.傅里叶变换红外光谱法（FTIR）：ISO21543:2020,GB/T6040-2019

3.拉曼光谱法：ASTME1840-96(2019),GB/T36065-2018

4.核磁共振波谱法（NMR）：ISO2453:2021,GB/T27844-2011

5.X射线衍射法（XRD）：ISO20203:2005,GB/T23413-2009

检测设备

1.ThermoScientificK-AlphaXPS：配备单色化AlKα源（1486.6eV），能量分辨率0.5eV

2.BrukerAVANCEIIIHDNMR：600MHz超导磁体，支持19F/31P等多核检测

3.PerkinElmerSpectrumTwoFTIR：光谱范围7800-350cm⁻，DTGS检测器

4.RenishawinViaRaman：532/785nm双激光源配置，空间分辨率1μm

5.PANalyticalEmpyreanXRD：Cu靶陶瓷X光管（45kV/40mA），PIXcel3D探测器

6.JEOLJSM-7900FSEM-EDS：场发射电子枪，能谱分辨率127eV

7.AgilentCary630FTIR：ATR附件支持液体/固体样品快速测试

8.MalvernZetasizerNanoZSP：动态光散射模块可测粒径0.3nm-10μm

9.ShimadzuEDX-7000XRF：Rh靶X射线管（50kV/100mA），10种滤光片系统

10.BrukerD8ADVANCEXRD：VNTEC-500二维探测器，扫描速度10000deg/min

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。