因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.金属材料中痕量元素分析（Li-U元素范围，检测限0.01-10ppm）

2.高纯材料杂质元素定量（Al₂O₃中Fe、Cr、Ni等杂质检测限≤0.1ppb）

3同位素比值测定（⁸U/⁵U比值精度0.05%）

4.表面镀层成分分析（深度分辨率达5nm）

5.半导体掺杂元素分布（B、P、As等掺杂浓度0.1-1000ppm）

检测范围

1.高温合金材料（镍基/钴基超合金、钛合金）

2.核工业材料（铀棒包壳材料、核级石墨）

3.电子级硅材料（单晶硅片、多晶硅锭）

4.贵金属制品（金靶材、铂催化剂载体）

5.陶瓷基复合材料（氮化硅轴承球、碳化硅密封件）

检测方法

ASTME1504-11：金属材料火花源质谱定量分析规程

ISO18114:2021：表面化学分析-火花源质谱校准程序

GB/T20127-2006：钢铁材料痕量元素分析方法

GB/T13747.22-2019：锆及锆合金化学分析-质谱法

JISH1697:2020：钛材杂质元素SSMS测定方法

检测设备

1.ThermoFisherElementGD：全自动辉光放电质谱仪（配备RF脉冲光源）

2.SPECTROMAXxMS06：六极杆碰撞池质谱仪（质量范围1-240amu）

3.NuInstrumentsAstrum：高分辨磁扇质谱仪（分辨率＞10,000）

4.Agilent8900ICP-MS/MS：三重四极杆质谱系统（MS/MS模式）

5.CAMECAims7f-Auto：二次离子质谱联用系统（3D元素成像）

6.HORIBAGD-Profiler2：深度剖析专用辉光放电源（Ar+离子束）

7.LECOGDS850A：脉冲直流光源质谱仪（脉冲频率1-1000Hz）

8.ShimadzuICPMS-2030：碰撞反应池技术（He/H₂混合模式）

9.PerkinElmerNexION5000：四极杆离子偏转系统（质量偏移校正）

10.GBCOptiMass9500：飞行时间质谱仪（全谱采集速率50spectra/s）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。