因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.晶格畸变率测量：分辨率0.02，测量范围5%

2.孪晶界面角度偏差：精度0.05，测量范围0-60

3.原子层厚度偏差：精度0.3nm，测量范围0.3-10nm

4.界面缺陷密度统计：最小识别尺寸0.5nm

5.元素分布均匀性分析：EDS面扫分辨率1nm/pixel

检测范围

1.石墨烯/六方氮化硼异质结薄膜

2.过渡金属硫化物单层（MoS₂/WS₂）

3.拓扑绝缘体纳米片（Bi₂Se₃/Sb₂Te₃）

4.钙钛矿量子点超晶格结构

5.金属有机框架二维晶体

检测方法

1.ASTME3060-23透射电子显微镜选区电子衍射法

2.ISO21363:2021纳米粒子跟踪分析技术

3.GB/T35098-2018扫描探针显微术规范

4.ISO19749:2021扫描电子显微镜能谱联用

5.GB/T36065-2018纳米材料晶体结构XRD测试

检测设备

1.JEOLJEM-ARM300F球差校正透射电镜：配备冷场发射枪（200kV），STEM分辨率0.08nm

2.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：峰值力轻敲模式，Z轴分辨率0.1nm

3.ThermoFisherTalosF200X场发射透射电镜：SuperXEDS探测器，元素分析精度0.5at%

4.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器：角分辨率0.5，最大采集速度4000点/秒

5.ZeissGeminiSEM500场发射扫描电镜：二次电子分辨率0.6nm@15kV

6.RigakuSmartLabX射线衍射仪：高分辨HRXRD模式（Δθ0.0001）

7.ParkSystemsNX12原子力显微镜：非接触模式表面粗糙度测量（Ra<0.05nm）

8.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD系统：薄膜附件入射角精度0.001

9.HitachiHF5000透射电镜：配备四探头EDS系统

10.KratosAXISSupraXPS系统：单层灵敏度达0.1monolayer

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。