因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.纯度分析：测定TaS₂主成分含量（≥99.5%），杂质元素（Fe、Ni、Cr）限值≤0.01%

2.晶体结构表征：层间距（0.570.02nm），晶格常数a=3.32/c=12.89

3.化学成分检测：硫/钽摩尔比（1.98-2.02），氧含量≤500ppm

4.粒度分布测试：D50粒径（1-5μm），比表面积（3-8m/g）

5.热稳定性评估：分解温度≥800℃，热膨胀系数（5.610⁻⁶/K）

检测范围

1.半导体用高纯二硫化钽靶材

2.超导材料复合基体

3.固体润滑涂层原料

4.锂离子电池负极材料前驱体

5.光电催化薄膜材料

检测方法

1.X射线衍射法（ASTME975）：采用θ-2θ扫描模式测定晶体结构

2.电感耦合等离子体发射光谱（GB/T20975.25）：定量分析金属杂质含量

3.激光粒度分析法（ISO13320）：干法分散测定粒径分布

4.热重-差示扫描量热联用（GB/T19469）：氮气氛围下测试热稳定性

5.X射线荧光光谱法（ISO3497）：无损测定硫钽元素比例

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备高温附件的高分辨率晶体分析系统

2.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：检出限达ppb级的多元素分析仪

3.MalvernMastersizer3000：干湿两用激光粒度分析仪

4.NetzschSTA449F5Jupiter：同步热分析仪（TGA-DSC）

5.BrukerS8TIGERXRF：波长色散型荧光光谱仪

6.QuantachromeAutosorb-iQ：比表面及孔隙度分析仪

7.ZEISSSigma500场发射电镜：配备EDS的微观形貌表征系统

8.AgilentCary7000紫外可见近红外分光光度计：光学性能测试平台

9.AntonPaarLitesizer500：纳米粒度及Zeta电位分析仪

10.MettlerToledoT90滴定仪：电位滴定法测定硫含量专用设备

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。