因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.晶面间距测量：分辨率0.001nm，测量范围0.1-2.0nm

2.晶体取向分析：角度精度0.1，取向偏差≤0.5

3.晶格畸变检测：应变分辨率110⁻⁴，畸变量程5%

4.相结构鉴定：物相识别准确度≥99%，支持JCPDS标准数据库比对

5.缺陷表征：位错密度测量范围10⁶-10/cm，层错能分析误差≤3%

检测范围

1.金属材料：铝合金单晶、钛合金多相体系、高温合金析出相

2.半导体材料：硅基外延层、GaN异质结、量子点阵列结构

3.纳米材料：碳纳米管手性分析、金属纳米颗粒晶型鉴定

4.陶瓷材料：氧化锆相变分析、氮化硅晶界特征研究

5.生物晶体：蛋白质单晶衍射、病毒衣壳对称性分析

检测方法

1.ASTME112-13：晶粒尺寸测定标准方法

2.ISO22278:2020：纳米材料电子衍射分析通则

3.GB/T30705-2014：微束分析电子背散射衍射分析方法

4.ISO16700:2016：透射电镜选区电子衍射规程

5.GB/T35033-2018：扫描电镜电子通道衬度分析方法

检测设备

1.FEITecnaiGF20：场发射透射电镜，点分辨率0.24nm

2.JEOLJEM-ARM300F：原子分辨率电镜，球差校正系统

3.HitachiHF5000：冷场发射电镜，配备4K4KCCD相机

4.ZeissLibra200MC：单色器透射电镜，能量分辨率0.7eV

5.ThermoFisherTalosF200X：STEM模式分辨率0.16nm

6.GatanOriusSC1000：高灵敏度CCD成像系统

7.BrukereFlashHR：电子背散射衍射探头，分辨率0.04μm

8.EmispecESVision：电子衍射花样自动标定软件

9.OxfordInstrumentsAZtecCrystal：晶体取向分布分析系统

10.DENSsolutionsWildfireS5：原位加热/电学测试样品杆

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。