因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 金属纯度测定：总金属含量≥99.99%，非金属杂质总量≤100ppm

2. 痕量杂质分析：Fe、Cu、Zn等13种元素检出限≤0.1ppm（ppb级）

3. 同位素比值测定：Ga-69/Ga-71比值精度±0.05%

4. 氧化物含量测试：Ga₂O₃含量≤50ppm（半导体级）

5. 表面污染检测：有机残留物≤5μg/cm²（电子级材料）

检测范围

1. III-V族半导体材料：GaAs晶圆、InP基板等化合物半导体

2. 低熔点合金材料：Ga-In-Sn液态金属合金（导热界面材料）

3. 光伏组件材料：CIGS薄膜太阳能电池（CuInGaSe₂）

4. 医用放射性核素：铊-201心脏显影剂原料

5. 电子封装材料：高纯镓基焊料（熔点29.76℃）

检测方法

1. ASTM E1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镓》

2. ISO 18114:2021《二次离子质谱法测定半导体材料表面杂质》

3. GB/T 17476-2023《电感耦合等离子体质谱法测定石油化工催化剂中铟含量》

4. JIS H1697:2020《辉光放电质谱法测定高纯镓中痕量元素》

5. GB/T 36590-2018《电子级三甲基镓化学分析方法》

检测设备

1. Thermo Fisher iCAP RQ ICP-MS：同位素比值测定（质量分辨率0.3amu）

2. PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES：多元素同步分析（波长范围165-782nm）

3. Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS/MS：超痕量杂质检测（检出限≤0.01ppt）

4. Shimadzu EDX-8000 X射线荧光光谱仪：非破坏性表面污染分析（Be窗探测器）

5. LECO ONH836氧氮氢分析仪：氧含量测定（灵敏度0.01ppm）

6. Bruker S8 TIGER波长色散XRF：合金成分快速筛查（Rh靶X光管）

7. Elvatech EDS-Micro XRF：微区元素分布成像（50μm空间分辨率）

8. Metrohm 930 Compact IC Flex离子色谱仪：阴离子杂质定量（电导检测器）

9. Horiba GD-Profiler 2辉光放电质谱仪：深度剖面分析（溅射速率0.1-10μm/min）

10. Mettler Toledo TGA/DSC同步热分析仪：氧化物含量测定（温度精度±0.1℃）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。