因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 电气参数测试：包括静态参数（阈值电压V_th≤5V，导通电阻R_DS(on)≤50mΩ）和动态参数（开关时间t_r/t_f≤100ns）。

2. 热阻特性分析：结到外壳热阻R_θJC≤1.5℃/W，采用瞬态双界面法测量。

3. 绝缘耐压测试：输入/输出端耐压≥2500V AC（60s），漏电流≤10μA。

4. EMI传导干扰：频率范围150kHz-30MHz，准峰值限值≤66dBμV。

5. 老化寿命评估：高温反偏试验（175℃/1000h），失效阈值ΔV_th≤10%。

检测范围

1. 硅基功率器件：包括600V-1700V IGBT模块、超结MOSFET等。

2. 宽禁带半导体：SiC MOSFET（1200V/100A）、GaN HEMT器件。

3. 电源管理IC：多相PWM控制器、DC-DC转换器芯片。

4. 智能功率模块：IPM（内置驱动电路，电流容量5-100A）。

5. 汽车电子组件：符合AEC-Q101认证的发动机控制单元功率IC。

检测方法

1. IEC 60747-9:2019规定绝缘栅双极晶体管静态特性测试流程。

2. JESD22-A108F标准用于温度循环试验（-55℃~150℃，1000次循环）。

3. GB/T 4023-2015明确半导体器件反向阻断特性测量规范。

4. MIL-STD-750G方法2019规定高温存储试验条件（175℃±3℃，1000h）。

5. ISO 16750-4:2010汽车电子功率器件振动测试参数（20Hz-2000Hz,50g）。

检测设备

1. Keysight B1506A功率器件分析仪：支持3000V/1500A脉冲测试，精度±0.05%。

2. Tektronix PA3000功率分析仪：带宽5MHz，基本精度±0.01%+±0.02%。

3. Thermo Scientific T3Ster瞬态热阻测试系统：分辨率0.01℃/W。

4. ESPEC PL-3K气候试验箱：温控范围-70℃~180℃，波动度±0.5℃。

5. Rohde&Schwarz EMC32电磁兼容测试系统：符合CISPR 32 Class B标准。

6. Chroma 19032电源负载模拟器：最大功率18kW，上升时间≤10μs。

7. Hioki IM3590阻抗分析仪：频率范围42Hz-5MHz，基本精度±0.05%。

8. FLIR X8500sc红外热像仪：热灵敏度20mK@30℃，空间分辨率1.1mrad。

9. Agilent 4156C精密半导体参数分析仪：最小电流分辨率10aA。

10. DAGE4000HS推拉力测试机：最大载荷500kgf，精度±0.25%。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。