因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.元素浓度梯度测定：采用线扫描/面扫描分析界面区域C、Si、Mn等主量元素含量波动（精度0.1wt%）

2.相分布均匀性评价：通过背散射电子成像（BSE）量化第二相颗粒尺寸（0.1-50μm）及间距分布

3.晶界偏析系数计算：基于俄歇电子能谱（AES）测定晶界处P、S等杂质元素富集度（检出限10ppm）

4.扩散层厚度测量：使用电子探针（EPMA）确定过渡区宽度（分辨率0.5μm）

5.界面结合强度测试：通过纳米压痕法获取界面硬度突变值（载荷范围0.1-500mN）

检测范围

1.金属基复合材料：包括铝基碳化硅复合材料、钛合金层压板等异质材料结合界面

2.焊接接头区域：涵盖钢轨闪光焊接头、铝合金TIG焊熔合线等冶金结合界面

3.涂层/基体系统：适用于热障涂层（TBCs）、物理气相沉积（PVD）硬质涂层等

4.高分子复合材料：包括纤维增强塑料（FRP）层间界面、共混聚合物相界面

5.半导体封装材料：针对芯片焊料/基板界面金属间化合物（IMC）生长分析

检测方法

ASTME1181-22《金属材料中显微偏析的标准试验方法》：规定电子探针定量分析规程

ISO22309:2011《微束分析-能谱法定量分析》：明确EDS元素面分布测试条件

GB/T13298-2015《金属显微组织检验方法》：包含金相制样与偏析评级规范

GB/T4334-2020《金属和合金的腐蚀不锈钢晶间腐蚀试验方法》：涉及晶界贫铬区检测

ISO14577-1:2015《金属材料硬度和材料参数的仪器化压痕试验》：纳米压痕法测试标准

检测设备

1.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜：配备OxfordUltimMax170mm能谱仪，实现50nm分辨率元素面分布分析

2.ShimadzuEPMA-8050G电子探针：配备5道波谱仪（WDS），元素检出限达100ppm

3.ThermoScientificK-Alpha+X射线光电子能谱仪：表面敏感度0.1at%，深度分辨率2nm

4.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：峰值力轻敲模式实现界面力学性能纳米级测绘

5.ZEISSCrossbeam550聚焦离子束系统：配合EDS实现三维界面重构（切片厚度5nm）

6.HysitronTIPremier纳米压痕仪：最大载荷10N，位移分辨率0.02nm

7.OxfordInstrumentsAZtecFeature自动颗粒分析系统：支持100万+颗粒/小时的统计处理

8.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪：配备高温附件进行原位界面反应研究

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。