因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 介电常数测试：频率范围1kHz-1MHz，温度区间-50℃至200℃

2. 相变温度测定：升温速率2℃/min，精度±0.5℃

3. 矫顽场强测量：电场强度0-30kV/cm，极化反转时间≤10ms

4. 剩余极化强度分析：测试电压±5kV，数据采集频率100Hz

5. 热释电系数检测：温度梯度0.5℃/s，灵敏度≥1nC/(cm²·K)

检测范围

1. 锆钛酸铅（PZT）基反铁电陶瓷材料

2. 铌酸钠钾（KNN）无铅压电单晶

3. 多层陶瓷电容器（MLCC）介质层

4. 聚合物基纳米复合储能薄膜

5. 钙钛矿型氧化物外延薄膜器件

检测方法

ASTM D150-18介电性能标准测试方法

IEC 60404-5磁性材料直流磁特性测量

GB/T 11309-2018压电陶瓷材料性能测试通则

ISO 21748:2017测量不确定度评定指南

GB/T 3389.1-2018铁电压电材料介电常数试验方法

检测设备

1. Agilent 4294A精密阻抗分析仪：40Hz-110MHz频段介电谱测量

2. Linkam TS1500热台系统：-196℃~600℃原位介电性能测试

3. Radiant Precision Premier II铁电测试仪：±10kV高压极化测量

4. Netzsch DSC 214差示扫描量热仪：相变温度测定精度±0.1℃

5. Bruker D8 Advance X射线衍射仪：晶体结构分析分辨率≤0.01°

6. Keysight B1500A半导体参数分析仪：纳安级漏电流检测能力

7. Oxford Instruments MagLab EXA超导磁体系统：最大磁场14T

8. FEI Nova NanoSEM 450场发射电镜：1nm分辨率微观形貌表征

9. Mettler Toledo TGA/DSC3+同步热分析仪：热重与热量联测系统

10. Janis SHI-4闭循环低温系统：4K~475K变温介电测量平台

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。