因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 暗电流测试：测量无光照条件下电流值（0.1-100 pA/cm²）

2. 增益特性分析：评估电子倍增系数（10³-10⁶倍）及线性度偏差（≤±3%）

3. 光谱响应测试：记录400-900nm波长范围的量子效率（15-35%@532nm）

4. 时间分辨率测定：捕捉单光子事件响应时间（0.5-5ns FWHM）

5. 真空度验证：监测管内残余气体压强（≤1×10⁻⁴ Pa）

检测范围

1. 微光夜视用三代/四代像增强器

2. 高速摄影用条纹变象管

3. X射线影像增强器核心组件

4. 激光雷达用超快响应光电转换模块

5. 高能物理实验用辐射探测变象管

检测方法

1. GB/T 5839-2006《光电倍增管测试方法》规范暗电流及增益测试

2. ISO 15529:2010《光学系统-调制传递函数测量》评估空间分辨率

3. ASTM F1467-19《光电探测器线性度测量标准规程》

4. GB/T 30111-2013《电子光学系统真空测试通用规范》

5. IEC 60747-5-5:2020《分立器件-光电装置测试规范》

检测设备

1. Keithley 6487皮安表：0.1fA分辨率暗电流测量

2. Hamamatsu C11347-11光电测试系统：多通道增益特性分析

3. Thermo Scientific PM1000光谱辐射计：350-1100nm光谱响应测试

4. Agilent 4156C半导体分析仪：IV/CV特性曲线扫描

5. Leybold PHOENIX L300i氦质谱检漏仪：1×10⁻¹² mbar·L/s灵敏度

6. Ophir PD300脉冲激光功率计：0.8-300ns脉宽测量

7. Varian 979电离真空计：1×10⁻⁸至1000Pa宽量程监测

8. Nikon NEXIV VMZ-R4545光学测量仪：5μm级几何尺寸验证

9. Tektronix DPO7254示波器：2.5GHz带宽时间特性分析

10. Bruker ContourGT-X3白光干涉仪：表面粗糙度Ra≤0.1nm测量

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。