因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.孔径尺寸公差：测量通光区域直径/边长偏差（0.5μm~5μm）

2.圆度误差：评估圆形孔径最大半径差（≤λ/10@632.8nm）

3.边缘粗糙度：Ra值控制在0.01-0.1μm范围

4.锥度偏差：锥形孔径角度误差≤30''

5.面形精度：PV值≤λ/4（λ=632.8nm）

6.位置偏移量：多孔阵列中心距偏差≤2μm

检测范围

1.光学透镜：包括球面/非球面透镜、微透镜阵列等

2.机械光阑：可变/固定式光阑叶片组件

3.光纤器件：光纤连接器端面、V型槽阵列

4.MEMS微孔：微机电系统加工的微米级通孔

5.精密模具：注塑成型用光学模具型腔

6.光栅元件：衍射光栅基底定位孔

检测方法

ASTMF312-08(2020)：采用白光干涉法测量微孔三维形貌

ISO10110-6:2015：规定光学元件边缘缺陷的量化评估方法

GB/T9246-2020：光纤连接器孔径尺寸接触式测量规范

ISO14997:2012：激光散射法表面粗糙度测试流程

GB/T1800.2-2020：几何公差标注与测量通则

MIL-PRF-13830B：军标规定的孔径圆度验证程序

检测设备

1.ZygoVerifireMST干涉仪：波长632.8nm，面形精度λ/1000，孔径测量范围Φ1-300mm

2.MitutoyoCMMCRYSTA-ApexS系列：三坐标测量机，空间精度(1.9+3L/1000)μm

3.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：垂直分辨率0.1nm，支持Φ0.1-10mm微孔测量

4.KeyenceVR-60003D扫描仪：复合式传感器，孔径重复性0.3μm

5.OlympusLEXTOLS5000激光显微镜：120nm横向分辨率，支持非接触式边缘粗糙度分析

6.TaylorHobsonTalyrond585LT圆度仪：主轴精度0.025μm，适用Φ0.5-150mm工件

7.NikonNEXIVVMZ-S3520视频测量系统：双远心镜头，放大倍率30X-5000X

8.RenishawRESOLUTE光栅尺系统：线性精度0.5μm/m，用于高精度定位控制

9.SCHOTTDualChannelAutocollimator：双通道自准直仪，角度分辨率0.01''

10.Agilent5530动态校准仪：激光干涉系统，线性测量精度0.5ppm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。