因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.化学成分分析：测定SiO₂（65-75%）、Al₂O₃（10-20%）、FeO（5-15%）及微量元素（Li、Mn等）含量

2.晶体结构分析：晶胞参数（a=15.83,c=7.11）、空间群（R3m）及结晶度指数（≥85%）

3.热电性能测试：塞贝克系数（-40~-80μV/K）、电阻率（1-10Ωcm）

4.红外光谱特征：400-1500cm⁻波段羟基振动峰及Si-O-Si键吸收峰定位

5.密度测定：真密度（2.82-3.20g/cm）、堆积密度（1.6-1.8g/cm）

检测范围

1.天然黑电气石原矿石：用于矿床品位评估及矿物分选指导

2.宝石级加工品：验证热处理/辐照改色工艺合规性

3.工业功能材料：负离子粉体、电磁屏蔽材料的成分均质性检验

4.粉末冶金制品：粒径分布（D50=5-50μm）及比表面积（2-15m/g）控制

5.复合涂层材料：涂层中电气石相含量（≥30%）及分散度评价

检测方法

1.X射线荧光光谱法（GB/T14506.28-2010）：主量元素定量分析

2.X射线衍射全谱拟合（ASTMD5380）：晶体结构精修与物相鉴定

3.四探针法（GB/T1551-2021）：块体材料电阻率测定

4.静态法热电测试（ISO22007-4）：塞贝克系数精确测量

5.阿基米德排水法（GB/T24586-2009）：真密度测定误差≤0.02g/cm

检测设备

1.RigakuZSXPrimusIV波长色散X射线荧光光谱仪：主量元素快速定量

2.BrukerD8AdvanceX射线衍射仪：配备LynxEye阵列探测器，角度分辨率0.0001

3.NetzschLFA467HyperFlash激光导热仪：热电系数同步测量精度3%

4.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：粒径分析范围0.01-3500μm

5.ShimadzuIRAffinity-1S傅里叶红外光谱仪：分辨率0.5cm⁻，扫描速度0.2秒/次

6.QuantachromeAutosorb-iQ全自动比表面分析仪：BET法比表面积测定误差1%

7.Keithley2450源表系统：四线法电阻率测量电流分辨率10fA

8.MettlerToledoXSE204电子天平：密度测定称量精度0.1mg

9.LeicaDM4P偏光显微镜：矿物包裹体观测放大倍数50-1000

10.HitachiSU5000场发射电镜：纳米级表面形貌与EDS联用分析

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。