因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.主成分纯度：采用X射线荧光光谱法测定K₂HfF₆含量≥99.5%

2.水分含量：卡尔费休法测定游离水≤0.05%（w/w）

3.金属杂质：ICP-MS检测Fe、Ni、Cr等过渡金属总量＜10ppm

4.氟离子活性：离子选择性电极法测定有效氟占比≥98.2%

5.颗粒度分布：激光衍射法分析D50值控制在5-20μm区间

检测范围

1.核反应堆中子吸收材料

2.半导体蚀刻工艺用高纯原料

3.特种玻璃制造添加剂

4.高温合金涂层前驱体

5.含氟催化剂中间体

检测方法

1.ASTME1479-16《电感耦合等离子体质谱法测定高纯材料中痕量元素》

2.ISO12980:2018《碳质材料中总氟量的测定》

3.GB/T5195.1-2020《萤石化学分析方法第1部分：氟化钙含量的测定》

4.GB/T6283-2008《化工产品中水分含量的测定卡尔费休法》

5.ISO13320:2020《粒度分析激光衍射法通则》

检测设备

1.Agilent7900ICP-MS：痕量金属元素定量分析（检出限0.01ppb）

2.Metrohm917CoulometricKFTitrator：微量水分测定（精度0.1μg）

3.MalvernMastersizer3000：全自动激光粒度分析（量程0.01-3500μm）

4.ThermoScientificARLPERFORM'XXRF：无标样快速成分分析

5.Metrohm905Titrando：电位滴定法测定氟离子活性

6.ShimadzuEDX-7000：能量色散X射线光谱仪（元素分析范围Na-U）

7.MettlerToledoTGA/DSC3+：热重-差示扫描联用仪（温度精度0.1℃）

8.PerkinElmerLambda950UV-Vis：紫外可见分光光度计（波长范围175-3300nm）

9.BrukerD8ADVANCEXRD：X射线衍射仪（角度重复性0.0001）

10.SartoriusCubisIIMSA225S-000-DM：百万分之一微量天平（最小称量值0.01mg）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。