因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 电容量偏差：测量标称值与实测值差异范围（±1%至±20%）

2. 耐压测试：施加1.5倍额定电压60秒无击穿

3. 绝缘电阻：DC 100V下≥10GΩ（25℃）

4. 损耗角正切值：1kHz时≤0.0025（Class I）

5. 温度特性：-55℃~125℃容量变化率≤±15%

检测范围

1. I类陶瓷介质材料（NP0/C0G）：高频电路补偿元件

2. II类陶瓷介质材料（X7R/X5R）：中高压滤波电容器

3. III类半导体陶瓷电容：浪涌抑制器件

4. 多层片式瓷介电容（MLCC）：0402~2220封装规格

5. 高压瓷介电容：额定电压2kV~30kV等级

检测方法

1. 电容量测试：GB/T 6346.22-2015/IEC 60384-8:2015

2. 耐压试验：GB/T 2693-2020第4.7条款

3. ESR测量：ASTM D2148射频阻抗分析法

4. 温度循环测试：JIS C5101-4:2016温度冲击程序

5. 机械强度测试：MIL-PRF-55681冲击振动标准

检测设备

1. Keysight E4980A精密LCR表：20Hz~2MHz频率范围±0.05%精度

2. Chroma 19032耐压测试仪：AC 5kV/DC 6kV输出能力

3. ESPEC T-240高低温试验箱：-70℃~180℃温变速率15℃/min

4. Agilent 4294A阻抗分析仪：40Hz~110MHz宽频段扫描

5. Hioki IM3536绝缘电阻计：1×10^3~1×10^16Ω量程

6. Thermotron SM-32振动试验台：10~2000Hz随机振动谱

7. FLIR A700红外热像仪：50mK热灵敏度监测温升

8. Mitutoyo LSM-902S激光测厚仪：±0.1μm电极厚度测量

9. Olympus MX63L金相显微镜：1500倍微观结构分析

10. HIOKI PW3390功率分析仪：0.05%基波精度测损耗角

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。