因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

能带结构分析：能量分辨率≤5 meV，动量分辨率±0.005 Å⁻¹

费米面测绘：角度扫描范围±30°，温度控制4-300 K

表面电子态密度测定：探测深度0.1-2 nm，光子能量范围10-150 eV

自旋极化电子探测：自旋分辨率>90%，磁场强度0-9 T

缺陷态表征：空间分辨率50 μm，同步辐射单色化带宽<20 meV

检测范围

高温超导材料：如Bi₂Sr₂CaCu₂O₈+δ单晶样品

拓扑绝缘体：包括Bi₂Se₃、Bi₂Te₃薄膜及异质结

半导体异质结：GaAs/AlGaAs量子阱结构

二维材料：石墨烯、过渡金属硫化物（MoS₂/WSe₂）

金属合金：铁磁/反铁磁多层膜（Co/Pt, Fe/Mn）

检测方法

ASTM E2108-16：表面分析技术中角度分辨测量的标准化流程

ISO 18516:2019：表面化学分析-角分辨电子能谱的横向分辨率测定

GB/T 19444-2021：纳米尺度电子能谱分析方法通则

GB/T 28893-2019：表面化学分析-样品处理与数据采集规范

ISO 20903:2019：电子能谱定量分析的重复性验证方法

检测设备

Scienta Omicron DA30-L：配备半球型能量分析器（能量分辨率0.3 meV@5 eV通能）

VG Scienta R4000：支持二维角度模式扫描（最大接收角±15°）

SPECS PHOIBOS 150：集成自旋探测模块（Mott极化仪效率≥20%）

Omicron Ultra LT-STM联用系统：兼容低温（0.4 K）与强磁场（±2 T）环境

ELMITEC LEED/ARPES集成系统：具备低能电子衍射原位校准功能（精度±0.05°）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。