因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.正向压降（VF）：在额定电流（如1A）下测量导通电压值（典型范围0.5-1.2V）
2.反向击穿电压（VRRM）：施加反向电压至规定漏电流（如5μA）时的临界电压值
3.反向漏电流（IR）：在最大反向工作电压下测量漏电流（通常≤10μA）
4.结电容（Cj）：采用1MHz频率下测量PN结电容值（典型范围5-100pF）
5.热阻（RθJA）：测量结到环境的热阻参数（单位℃/W）
6.开关时间：包括反向恢复时间trr（典型值50ns-1μs）和正向恢复时间tfr

检测范围

1.整流二极管：1N400x系列、1N540x系列等通用型器件
2.开关二极管：1N4148、1N4448等高频应用器件
3.肖特基二极管：BAT54系列、MBR系列等低VF器件
4.稳压二极管：1N47xx系列、BZX55系列等齐纳二极管
5.快恢复二极管：FR10x系列、UF400x系列等高频整流器件
6.大功率模块：三相整流桥堆、汽车用高压二极管组件

检测方法

1.电参数测试依据IEC60747-1:2022半导体器件通用标准
2.正向特性按GB/T4023-2015《半导体器件分立器件第2部分》执行
3.热特性测试参照JESD51-14集成电路热测量标准
4.可靠性试验遵循GJB128B-1997军用半导体器件试验方法
5.ESD抗扰度测试采用IEC61000-4-2标准8kV接触放电等级
6.环境试验依据GB/T2423系列进行温度循环、湿热试验

检测设备

1.KeysightB1505A功率器件分析仪：支持2000V/1500A参数测试
2.TektronixDMM4040六位半数字万用表：μA级漏电流测量
3.Chroma19032耐压测试仪：AC/DC5kV绝缘性能测试
4.FLIRA315红外热像仪：非接触式热分布分析
5.ESPECPL-3K环境试验箱：温度范围-70℃~180℃
6.Agilent4294A阻抗分析仪：4Hz-110MHz结电容测量
7.ThermoScientificT3Ster瞬态热阻测试系统
8.OMRONZ500静电放电模拟器：30kVESD性能测试
9.HiokiIM3590化学阻抗分析仪：材料特性评估
10.GWInstekLCR-8105G高频LCR表：1MHz电容参数测量

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。