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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
粒径分布(D10/D50/D90):表征10%、50%、90%累积体积对应的特征粒径
比表面积测定:基于BET理论计算单位质量颗粒的总表面积
颗粒形状分析:圆度≥0.85判定为球形颗粒
Zeta电位测定:测量范围±200mV
孔隙率测试:孔径分布0.35-500nm
金属粉末:钛合金/不锈钢/钨粉(粒径0.1-100μm)
陶瓷原料:氧化铝/碳化硅/氮化硅(D50≤5μm)
制药颗粒:API原料药/微晶纤维素(符合USP<786>标准)
化工催化剂:分子筛/活性炭载体(孔径2-50nm)
食品添加剂:二氧化硅抗结剂(GB 25576-2010)
激光衍射法:ASTM B822-20 / ISO 13320:2020 / GB/T 19077-2016
动态光散射法:ISO 22412:2017 / GB/T 29022-2012
筛分法:ASTM E11-20 / GB/T 6003.1-2022
图像分析法:ISO 13322-2:2021 / GB/T 21649.1-2008
气体吸附法:ISO 9277:2010 / GB/T 19587-2017
马尔文帕纳科 Mastersizer 3000:激光衍射仪(0.01-3500μm)
布鲁克海文 ZetaPALS:动态光散射仪(3nm-10μm)
麦克仪器 TriStar II Plus:比表面及孔隙分析仪(0.35-500nm)
莱驰公司 CAMSIZER X2:动态图像分析系统(1μm-30mm)
新帕泰克 HELOS/RODOS:干法分散系统(0.1-8750μm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。