因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

体积电阻率：测量范围10^-6-10¹⁴ Ω·cm，温度范围-70°C至300°C

表面电阻率：测量精度±1%，符合IEC 60093标准

电导率：测试频率1Hz-1MHz，分辨率0.01 S/cm

载流子迁移率：霍尔效应法，灵敏度0.1 cm²/(V·s)

载流子浓度：范围10¹⁰-10²⁰ cm^-3，误差≤±5%

检测范围

金属材料：铜、铝、银及其合金的导电性评估

半导体材料：硅、锗、砷化镓的载流子特性分析

导电高分子：聚苯胺、聚吡咯薄膜电阻率测试

纳米材料：碳纳米管、石墨烯电导率及分散性检测

电子元器件：PCB板、导电胶、电磁屏蔽材料的表面阻抗测量

检测方法

四探针法：ASTM B193、GB/T 3048.3（金属及薄膜电阻率）

范德堡法：ISO 3915（各向异性材料电阻率）

霍尔效应测试：ASTM F76、GB/T 13389（载流子浓度及迁移率）

交流阻抗谱法：IEC 62631-3-1（高分子材料介电性能）

涡流导电检测：ISO 2360（非接触式金属电导率测量）

检测设备

四探针电阻测试仪（RTS-9）：量程0.1μΩ·m-100MΩ·m，支持ASTM F1529

霍尔效应测试系统（HMS-5000）：磁场强度0.5T，温度控制±0.1°C

高阻计（Agilent 4339B）：最大电阻10¹⁶Ω，符合GB/T 1410

阻抗分析仪（Keysight E4990A）：频率范围20Hz-120MHz，四端对接口

导电原子力显微镜（Bruker Dimension Icon）：纳米级表面电导率成像，分辨率0.1nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。