因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

反射率测量：波长范围200-2500nm，入射角0°±0.1°，测量精度±0.5%

透射率分析：光谱分辨率≤1nm，重复性误差＜0.3%，波长覆盖紫外-近红外波段

折射率测定：基于椭圆偏振法，精度±0.002@632.8nm，厚度测量范围1nm-50μm

吸收系数计算：依据Beer-Lambert定律，检测限0.1cm⁻¹，温度稳定性±0.5℃

表面粗糙度关联分析：Ra≤0.5nm时散射损耗＜0.2%，采用PSD表面功率谱密度评价

检测范围

光学薄膜：包括AR膜、IR截止膜、分光膜等

半导体晶圆：硅片、GaAs、InP等Ⅲ-Ⅴ族化合物

金属镀层：铝、银、金反射镜涂层，厚度50-500nm

玻璃基板：超白玻璃、硼硅玻璃、石英玻璃

高分子材料：PC、PMMA、PET光学级板材

检测方法

ASTM E903-20：材料太阳反射比的半球测定法

ISO 13696:2002：光学元件散射特性测量方法

GB/T 26397-2011：光学功能薄膜透过率测试方法

ISO 14782:2015：塑料透明材料雾度测定

ASTM F1048-18：非破坏性椭圆偏振测量标准规程

检测设备

PerkinElmer Lambda 1050：双光束紫外-可见-近红外分光光度计，配备150mm积分球

J.A. Woollam M-2000UI：宽光谱椭偏仪，光谱范围190-1700nm，入射角0-90°可调

Bruker Dektak XT Profilometer：表面轮廓仪，垂直分辨率0.01Å，扫描长度100mm

Agilent Cary 7000：全自动变角光谱系统，支持-40°~110°入射角连续调节

Labsphere CDS 610：准直光束发生装置，发散角＜0.1°，用于精确法线对准

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。