因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

静态电流漂移：测量待机状态下电流基线偏移量（±0.5μA）

动态响应漂移：检测负载突变时电流恢复稳定性（误差≤±2%）

温度系数漂移：分析-40℃~125℃温区内电流波动（±0.1%/℃）

长期老化漂移：持续1000小时监测电流衰减率（阈值≤3%）

噪声电流漂移：量化1Hz-1MHz频段内噪声电流密度（nA/√Hz）

检测范围

半导体材料：GaN功率器件、SiC MOSFET芯片

储能系统：锂离子电池组、超级电容器模组

传感器件：霍尔电流传感器、光电探测器

电路组件：高精度运算放大器、DC-DC转换模块

工业设备：PLC控制器、变频器功率单元

检测方法

ASTM F1260-2021：半导体器件静态电流漂移测试规范

ISO 16750-2:2023：车载电子部件动态电流稳定性评估

GB/T 19150-2016：光伏系统电流漂移加速老化试验方法

IEC 62321-2013：电子材料温变电流特性六步检测法

JIS C 60068-3-6:2019：工业控制器长期电流漂移评定标准

检测设备

Keysight B2902A精密源表：分辨率0.1fA，支持四象限输出

Chroma 17020电池测试系统：±0.02%电流精度，多通道同步采集

Tektronix PA3000功率分析仪：带宽5MHz，支持动态电流纹波分析

ESPEC PL-3KPH气候箱：温控精度±0.5℃，集成IV特性测试模块

NI PXIe-4143源测量单元：18位ADC，支持1000小时连续数据记录

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。