获取报告模板? 咨询解决方案? 查询检测项目? 检测周期? 样品要求? |
立 即 咨 询 ![]() |
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
位错环密度检测:测量单位体积内位错环数量(单位:cm⁻³)
位错环尺寸分布分析:统计直径范围(1-500 nm)及占比
Burgers矢量测定:确定位错环类型(棱柱型/混合型)
晶体取向关联性分析:测定位错环与基体晶向偏差角度(0.1°精度)
应力场分布检测:通过应变场映射(分辨率≤5 nm)
核反应堆用锆合金包壳材料
航空钛合金结构件
半导体硅晶圆
高温镍基单晶超合金
纳米结构金属陶瓷复合材料
透射电子显微镜法:ASTM E112-13,GB/T 13298-2015
电子背散射衍射技术:ISO 16700:2016
X射线衍射法:GB/T 8359-2019,ASTM E915-19
原子探针层析技术:ISO 21368:2020
同步辐射三维成像:ISO/TS 21432:2021
场发射透射电镜:JEOL JEM-ARM300F(空间分辨率0.08 nm)
电子背散射衍射系统:Oxford Instruments Symmetry EBSD(角度分辨率0.5°)
三维原子探针:CAMECA LEAP 5000XR(质量分辨率m/Δm≥2000)
高能X射线衍射仪:Bruker D8 Discover(最小光斑尺寸50 μm)
聚焦离子束系统:Thermo Scientific Helios G4 UX(束流稳定性≤0.5%)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。