因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

平均核半径测量：检测范围0.5-500nm，误差±0.3nm

核壳结构分布密度：分析单位面积内核粒子数（10^3-10^7个/mm²）

壳层厚度均匀性：测量精度±0.5nm，梯度变化率≤5%

界面粗糙度检测：Ra值范围0.1-10.0nm，三维形貌重建

元素分布梯度分析：能谱分辨率≤1.3eV，深度分辨率5nm

检测范围

核燃料元件：UO2颗粒芯块及包壳材料

半导体量子点：CdSe/ZnS等核壳结构纳米颗粒

纳米复合材料：金属@陶瓷核壳催化剂

放射性同位素封装材料：Al2O3包覆源芯

合金扩散层：Ni基高温合金γ/γ'相结构

检测方法

ASTM E112-13：标准晶粒度测定法扩展应用于核粒径统计

ISO 13383-1:2012：扫描电镜法定量分析核壳结构

GB/T 13298-2015：金属显微组织检验方法

ISO 16700:2016：微束分析-扫描电镜校准规范

GB/T 23414-2021：微束分析-扫描探针显微镜检测方法

检测设备

场发射透射电镜：JEOL JEM-ARM300F，点分辨率0.19nm

高分辨扫描电镜：Thermo Scientific Apreo 2，分辨率0.6nm@15kV

原子力显微镜：Bruker Dimension Icon，Z轴分辨率0.05nm

X射线能谱仪：Oxford Instruments X-Max 80，检测限0.1wt%

图像分析系统：Image-Pro Plus 3D，三维重构精度±1.2nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。