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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
波长精度误差:测量值与标称值的偏差范围≤±0.5nm(@1550nm基准波长)
透过率均匀性:有效区域内透过率偏差≤±1.5%(ISO 13696标准)
反射率稳定性:连续10次测量反射率波动≤±2%(ASTM E903规范)
表面粗糙度:Ra值≤0.2nm(白光干涉法测量)
偏振相关损耗:PDL≤0.1dB(C波段测试条件)
光学玻璃基板:包括熔融石英、BK7等材质的光学窗口片
薄膜涂层材料:AR/HR镀膜层、介质膜堆栈结构
光纤器件:FBG光栅、WDM滤波片等通信组件
激光晶体材料:Nd:YAG、LiNbO3等非线性晶体
半导体材料:InP基波导器件、GaAs光电子芯片
ASTM E903-20:采用积分球法测量材料透射/反射光谱特性
ISO 13696:2002:激光散射法评估光学元件表面散射损耗
GB/T 26332-2010:光学薄膜光谱性能测试规范
GB/T 22453-2008:X射线反射法测量薄膜厚度及密度
IEC 61300-3-25:光纤器件偏振特性测试规程
Agilent Cary 7000全能分光光度计:波长范围190-3300nm,分辨率0.05nm
Zygo NewView 9000白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,横向分辨率1μm
EXFO FTB-5240S-P光波元件分析仪:支持C/L波段PDL测试
Keysight N7788B偏振分析仪:动态范围60dB,波长精度±5pm
PerkinElmer Lambda 1050+紫外可见近红外分光光度计:配备150mm积分球组件
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。