因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

静态输入偏置电流（Ib）：典型范围10pA~100μA

动态输入偏置电流（ΔIb）：频率响应0.1Hz~10MHz

温度漂移系数（TCIb）：-55℃~+150℃温变条件下的偏差值

共模抑制比（CMRR）：80dB~140dB量程

长期稳定性（LTS）：1000小时持续监测的电流波动量

检测范围

运算放大器（OP-AMP）集成电路

传感器信号调理模块

电源管理芯片（PMIC）

高精度数据转换器（ADC/DAC）

医疗电子设备前端电路

检测方法

GB/T 4377-2018《半导体器件分立器件测试方法》第5.3节

ASTM F1241-22《线性集成电路电参数测试标准》

IEC 60748-4-1:2021半导体器件通用规范

ISO 16750-2:2023道路车辆电气负荷试验标准

JEDEC JESD22-A108F温度循环测试规程

检测设备

Keysight B2900A精密源表：分辨率0.1fA，电压范围±210V

Tektronix PA3000功率分析仪：带宽5MHz，支持多通道同步测量

Chroma 17011高低温试验箱：温控精度±0.5℃，升降速率15℃/min

Keithley 4200A-SCS参数分析仪：集成C-V/I-V/LIV全功能测试模块

Fluke 8588A参考级万用表：8.5位分辨率，年稳定性±0.5ppm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。