因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

纯度检测：主成分含量（≥99.5%）、杂质元素（Pt、Ru、Os等≤0.1%）

晶相结构分析：晶体结构类型（立方晶系）、晶胞参数（a=5.38±0.02 Å）

粒径分布：平均粒径（50-200 nm）、D90分布范围

表面形貌：颗粒形貌（球形/不规则）、表面粗糙度（Ra≤10 nm）

元素分布：铱元素面扫描均匀性（偏差≤5%）

检测范围

催化剂材料：质子交换膜燃料电池催化剂、电解水析氧电极

电子陶瓷材料：高介电常数陶瓷基体、电极浆料

贵金属涂层：医疗器械抗氧化涂层、航天器耐腐蚀涂层

溅射靶材：半导体薄膜沉积用高纯靶材（纯度≥99.95%）

粉末冶金制品：高温合金添加剂、耐磨部件预混粉体

检测方法

X射线衍射（XRD）：ASTM E975、GB/T 23413

扫描电子显微镜（SEM）：ISO 16700、GB/T 27788

电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）：ISO 11885、GB/T 36590

激光粒度分析（LPSA）：ISO 13320、GB/T 19077

X射线荧光光谱（XRF）：ASTM E1621、GB/T 16597

检测设备

X射线衍射仪：Rigaku SmartLab，配备HyPix-3000探测器，角度精度±0.001°

场发射扫描电镜：Hitachi SU5000，分辨率1.2 nm@15 kV，配备EDS系统

电感耦合等离子体光谱仪：PerkinElmer Optima 8300，检出限0.01 ppm

激光粒度分析仪：Malvern Mastersizer 3000，测量范围0.01-3500 μm

波长色散X荧光光谱仪：Thermo Scientific ARL PERFORM'X，分析元素范围B-U

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。