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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
线性位移精度:测量范围0-500mm,误差≤±(0.5+L/200)μm
重复定位精度:10次测量标准差≤0.2μm
温度漂移特性:20±1℃环境下漂移量<0.8μm/m
动态响应特性:最大扫描速度60m/min时误差增量≤1.2μm
光源稳定性:LED光源波长稳定性±0.5nm/8h
金属材料:钛合金棒材、航空铝型材、精密轴类零件
高分子材料:工程塑料齿轮、PTFE密封件
光学元件:棱镜几何尺寸、透镜曲率半径
半导体器件:晶圆厚度、芯片封装尺寸
复合材料:碳纤维层压板厚度、陶瓷基板平面度
ISO 10360-2: 坐标测量机的验收检测与复检检测
GB/T 16857.2-2017: 产品几何量技术规范(GPS)坐标测量机的验收检测和复检检测
ASTM E2847-14: 激光测距系统性能评估标准
ISO 14978:2006: 几何量测量设备通用特性及校准要求
GB/T 18777-2019: 表面结构测量轮廓法术语定义
KEYENCE LS-9000系列:分辨率0.01μm,最大量程1m,配备温度补偿模块
Mitutoyo LH-600:双频激光干涉系统,线性精度±0.3μm/m
Hexagon Absolute Arm 7轴测量臂:集成光电扫描头,空间精度15μm+6μm/m
Renishaw XL-80激光干涉仪:动态测量模式,采样频率50kHz
Olympus LEXT OLS5000:激光共聚焦显微系统,Z轴分辨率1nm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。