因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

分辨率检测：线对/毫米（lp/mm），最小可分辨特征尺寸≤0.5μm

像差检测：波前误差RMS值≤λ/14（λ=632.8nm），球差/彗差≤0.05λ

光谱响应检测：波长范围200-2500nm，量子效率偏差≤±3%

信噪比检测：暗电流噪声≤0.1nA，动态范围≥90dB

调制传递函数（MTF）：空间频率0-200cycles/mm，截止频率误差≤5%

检测范围

半导体晶圆及微纳光学元件

液晶显示面板与OLED器件

光学薄膜（AR/IR/Mirror coatings）

光纤通信组件（耦合器、分光器）

光电传感器（CMOS/CCD/InGaAs）

检测方法

ISO 12233:2017 成像系统分辨率测试

ASTM E1751-20 光学系统波前像差测量

IEC 60904-8:2014 光谱响应特性测试

GB/T 12334-2022 光电探测器噪声测试

ISO 9334:2020 光学传递函数测量方法

检测设备

Optikos LensCheck® MTF测试仪：分辨率0.3-2000lp/mm，精度±0.5%

Bentham PVE300光谱响应测试系统：波长范围200-2500nm，精度±0.8nm

ZYGO Verifire™激光干涉仪：波前测量精度λ/1000 PV值

Espec T-240高低温试验箱：温度范围-70℃~+180℃

Keysight B1500A半导体分析仪：电流分辨率0.1fA，电压范围±1000V

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。