因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

化学成分分析：Mo（60-75%）、Si（25-40%）、Fe（≤0.5%）、Al（≤0.3%）、C（≤0.15%）

粒度分布检测：D10（2-5μm）、D50（8-15μm）、D90（20-30μm）

密度测试：真密度（5.8-6.2g/cm³）、振实密度（3.0-3.5g/cm³）

杂质元素检测：O（≤1.0%）、N（≤0.5%）、S（≤0.05%）

颗粒形貌分析：球形度（≥0.85）、表面粗糙度（Ra≤0.2μm）

检测范围

硅钼合金添加剂：用于钢铁冶炼的脱氧剂与合金化材料

高温耐火材料：窑炉内衬、坩埚等硅钼基复合材料

电子陶瓷原料：半导体封装用硅钼复合陶瓷粉体

热喷涂粉末：耐磨涂层用球形硅钼粉

核工业材料：中子吸收组件中的硅钼复合材料

检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）：ASTM E1621、GB/T 223.79

激光粒度分析仪法：ISO 13320、GB/T 19077

气体置换法密度测试：ASTM B923、GB/T 5162

惰性气体熔融法：ASTM E1409、GB/T 4336

扫描电子显微镜法（SEM）：ISO 21363、GB/T 23413

检测设备

X射线荧光光谱仪：Thermo Scientific ARL PERFORM'X，检测元素含量

电感耦合等离子体发射光谱仪：PerkinElmer Optima 8300，痕量元素分析

激光粒度分析仪：Malvern Mastersizer 3000，0.01-3500μm粒径测量

振实密度测试仪：Quantachrome Dual Autotap，ISO标准振实装置

场发射扫描电镜：JEOL JSM-IT800，5nm分辨率形貌观测

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。