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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
化学成分分析:SiO₂含量(≥99.95%)、杂质元素(Al、Fe、Na等,限值≤50ppm)
热膨胀系数:20-1000℃范围内α值(≤5.5×10⁻⁷/℃)
光学透过率:紫外-可见光波段(200-1100nm)透光率(≥93%@254nm)
密度测试:标准条件下密度值(2.20±0.02g/cm³)
气泡/夹杂物检测:缺陷尺寸(≤0.1mm)、分布密度(≤3个/cm³)
高纯石英玻璃制品(坩埚、管材、法兰)
精密光学透镜及窗口材料
半导体光刻设备用基板
高温观察窗与真空腔体组件
紫外激光器用光学元件
化学成分分析:ASTM E1479(ICP-OES法)、GB/T 3284-2015(XRF法)
热膨胀系数测定:ISO 7991:1987、GB/T 16535-2008(推杆式膨胀仪法)
光学性能测试:ISO 9050:2003(分光光度计法)、GB/T 7962.5-2010
密度测量:ASTM C693-93(阿基米德法)、GB/T 5432-2008
缺陷检测:ASTM F153-86(显微镜法)、GB/T 12442-2005(图像分析法)
X射线荧光光谱仪:Rigaku ZSX Primus III(元素含量检测,精度0.01ppm)
热膨胀仪:NETZSCH DIL 402 Expedis(温度范围-160℃~1600℃,分辨率0.05nm)
紫外分光光度计:PerkinElmer Lambda 1050(波长范围175-3300nm,精度±0.08%)
密度测定系统:Mettler Toledo XS204(称重精度0.1mg,温控±0.1℃)
激光共聚焦显微镜:Olympus LEXT OLS5000(最大放大倍率10000X,Z轴分辨率1nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。