因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

平面度误差检测：导轨全长平面度≤0.02mm/m，局部≤0.005mm

平行度误差检测：横向/纵向平行度≤0.03mm/1000mm

表面粗糙度检测：Ra≤0.8μm，Rz≤6.3μm

硬度检测：表面硬度HRC58-62，芯部硬度HB200-250

直线度误差检测：全长直线度≤0.05mm，局部波动≤0.01mm/300mm

耐磨层厚度检测：高频淬火层深度1.2-1.8mm

装配间隙检测：滑块与导轨配合间隙≤0.015mm

检测范围

灰铸铁导轨（HT250/HT300）

合金钢导轨（42CrMo/GCr15）

不锈钢导轨（304/316L）

铝合金导轨（6061-T6/7075-T651）

高分子复合材料导轨（PTFE改性/PEEK基）

检测方法

平面度检测：ISO 230-1:2012机床检验通则，GB/T 11337-2004几何量测量

表面粗糙度检测：ISO 4287:1997表面纹理参数，GB/T 1031-2009粗糙度评定

硬度检测：ASTM E10-18布氏硬度，GB/T 230.1-2018洛氏硬度

直线度检测：ISO 12180-2:2011几何产品规范，GB/T 11336-2004直线度误差

间隙检测：ASME B5.54-2005机床精度，GB/T 17421.1-1998机床检测

检测设备

三坐标测量机（Hexagon Croma Plus 121510）：测量范围1200×1500×1000mm，空间精度2.1+L/350μm

激光干涉仪（Renishaw XL-80）：线性测量分辨率0.001μm，最大测量速度4m/s

表面粗糙度仪（Mitutoyo Surftest SJ-410）：测量范围±800μm，评估长度0.25-12.5mm

万能材料试验机（Instron 5985）：载荷范围0.02-300kN，精度±0.5%

金相显微镜（Olympus BX53M）：放大倍数50-1000×，配备Clemex图像分析系统

超声波测厚仪（Olympus 38DL PLUS）：频率范围1-15MHz，分辨率0.001mm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。