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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
介电常数(εr):1MHz-10GHz频率范围,±0.5%测量误差
磁导率(μr):0.1-2T磁场强度,温度范围-40℃~150℃
损耗角正切(tanδ):10-5-10-1量级分辨率,频率稳定性±0.1%
Q值(品质因数):10-5000测量范围,相位噪声≤-120dBc/Hz
电阻率(ρ):106-1015Ω·cm,电压范围0.1-1000V
高频电路板材料:FR-4、PTFE、陶瓷基板
软磁材料:铁氧体、非晶合金、纳米晶带材
微波介质陶瓷:BaTiO3、Al2O3、MgTiO3
高分子绝缘材料:PI薄膜、EP环氧树脂、硅橡胶
金属导电材料:铜箔、银浆、ITO镀膜
ASTM D2520:平行板法测定介电常数与损耗因子
IEC 60404-6:环形试样法测量软磁材料动态磁导率
GB/T 1409-2006:高压电桥法测定绝缘材料介质损耗
ISO 2178:非磁性基体镀层厚度磁导率关联检测
GB/T 11310-2019:同轴谐振腔法测量微波介质参数
Keysight N5227B矢量网络分析仪:10MHz-67GHz,支持S参数与Q值测量
Lake Shore 480振动样品磁强计:0.001-3T磁场,温度控制±0.1℃
Agilent 4294A精密阻抗分析仪:40Hz-110MHz,4端对测量接口
Novocontrol Alpha-A高频介电谱仪:1μHz-40MHz,温控范围-160℃~400℃
HIOKI IM3536 LCR测试仪:4Hz-8MHz,基本精度±0.05%
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。