获取报告模板? 咨询解决方案? 查询检测项目? 检测周期? 样品要求? |
立 即 咨 询 ![]() |
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
反向击穿电压(VBR):测量集电极-发射极间最大耐受电压,测试范围500V-10kV,误差精度±0.5%
直流电流增益(hFE):在IC=1A条件下检测放大倍数,标准阈值20-200倍
漏电流(ICEO):基极开路时CE极间泄漏电流,检测限值≤10μA@25℃
开关时间参数:包含上升时间tr(≤50ns)和存储时间ts(≤200ns)
热阻特性(RθJC):结到壳热阻值检测,精度要求±0.05℃/W
材料类型:硅基NPN/PNP七极管、锗基高频器件
封装形式:TO-220/TO-3P金属封装、D2PAK表面贴装器件
功率等级:小信号管(<1W)、中功率管(1-50W)、大功率模块(>50W)
应用领域:开关电源驱动管、射频放大器件、电机控制模块
特殊环境器件:耐辐射加固型、宽温域(-55℃~175℃)器件
电性能测试:依据GB/T 4587-2020《半导体器件分立器件测试方法》进行静态参数测量
高温反偏试验:参照IEC 60749-25标准,在125℃环境下施加80%额定电压持续168小时
开关特性分析:采用ASTM F1242脉冲测试法,使用10MHz方波信号源
热特性测试:执行MIL-STD-750-316标准,使用瞬态热阻抗测量法
失效分析:按GB/T 4937半导体器件机械和气候试验方法进行开封检查
Keysight B1505A功率器件分析仪:支持10kV/1000A测试能力,集成CV/IV测量模块
Tektronix AFG31052任意波形发生器:提供100MHz高频脉冲信号输出
Fluke 6100A热电偶校准系统:实现-200℃~1200℃温度特性精确测试
Thermo Scientific CL6红外热成像仪:空间分辨率≤15μm,用于热点定位分析
Hioki IM3590化学阻抗分析仪:支持10μΩ~100MΩ阻抗测量,频率范围0.01Hz-200kHz
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。