因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

相组成定量分析：测定α/β/γ相体积分数（精度±0.5%），相区元素配比（检测限0.1at%）

显微结构表征：晶粒尺寸分布（10nm-200μm），相界面厚度（±5nm），孔隙率（0.1%-30%）

热力学性能测试：相变温度（DSC检测范围RT-1600℃），焓变值（精度±0.1mW/mg）

元素三维分布：EPMA面扫描（步长0.1μm），TOF-SIMS深度分析（分辨率＜5nm）

结构稳定性评估：高温时效实验（最高1200℃），相演化动力学参数（时效时间0-1000h）

检测范围

高温合金体系：镍基/钴基超合金、Ti-Al-V系钛合金

能源材料：锂离子电池三元正极材料（NCM/NCA）、固态电解质

先进陶瓷：ZrO₂-Y₂O₃-Al₂O₃系、SiC-Si₃N₄复合材料

金属间化合物：Fe-Al-Ni系、Ti-Nb-Zr生物医用合金

半导体材料：GaAs-InP异质结、Cu(In,Ga)Se₂薄膜光伏材料

检测方法

X射线衍射分析（XRD）：ASTM E1245-03标准，θ-2θ联动扫描（角度精度±0.0001°）

扫描电镜-能谱联用（SEM-EDS）：ISO 17405:2014标准，背散射电子成像（分辨率1.0nm@15kV）

差示扫描量热（DSC）：ASTM E967-18标准，升温速率0.1-100K/min

电子探针显微分析（EPMA）：ISO 22309:2011标准，波谱仪检测限0.01wt%

聚焦离子束-透射电镜（FIB-TEM）：ASTM E2809-22标准，样品制备厚度＜100nm

检测设备

X射线衍射仪：Rigaku SmartLab 9kW，配备高分辨率HybridPixel阵列探测器，可执行GIXRD、原位高温XRD

场发射扫描电镜：Thermo Scientific Apreo 2C，配置Bruker Quantax EDS系统，实现纳米级原位成分分析

同步热分析仪：PerkinElmer DSC 8500，集成TGA/DSC同步测量模块，温度控制精度±0.1℃

电子探针：JEOL JXA-8530F Plus，配备5通道WDS光谱仪，元素分析范围B~U

三维原子探针：CAMECA LEAP 5000XR，空间分辨率0.3nm，质量分辨率m/Δm＞300

技术优势

CNAS认可实验室（编号L1234），通过ISO/IEC 17025:2017体系认证

配备JEOL、Thermo Fisher等原厂认证工程师团队，设备校准溯源至NIST标准物质

自主开发PhaseExpert分析系统，实现三元相图自动拟合（误差＜1.5%）

具备真空转移模块，确保活性样品（如锂金属）在＜10⁻⁶ Torr环境下无损检测

参与制订GB/T 38214-2019《金属材料相含量的电子背散射衍射测定方法》国家标准