因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

通道几何精度检测：尺寸公差±0.05mm，圆度误差≤0.02mm，直线度偏差≤0.03mm/100mm

表面粗糙度分析：Ra≤0.8μm，Rz≤6.3μm，波纹度Wt≤2μm

残余应力分布测试：X射线衍射法测量应力梯度（±200MPa），应变片法验证弹性变形量

微观结构表征：SEM观察晶粒度（1-10μm），EDS分析元素偏析（检测限0.1wt%）

密封性能验证：氦质谱检漏率≤1×10^-9 mbar·L/s，压力循环测试（0-10MPa/500次）

检测范围

精密金属部件：钛合金燃油喷嘴、镍基高温合金涡轮叶片内部冷却通道

高分子材料部件：PEEK人工关节微流体通道、PTFE密封环流道结构

电子封装材料：BGA封装基板导通孔、3D芯片TSV硅通孔

光学元件：蓝宝石窗口激光微通道、石英光纤预制棒内孔

复合材料构件：碳纤维增强环氧树脂流道、陶瓷基复合材料燃烧室通道

检测方法

尺寸计量学检测：依据ISO 1101:2017几何公差标准，采用接触式三坐标测量

表面完整性评估：执行ASTM E3-11金相制备规程，结合ISO 4287表面粗糙度测量标准

残余应力分析：基于ASTM E915 X射线应力测定方法，同步应用ISO/TR 10451应变测试规范

材料性能测试：按ISO 6892-1进行拉伸试验，ASTM E384开展显微硬度测试（载荷0.1-2kgf）

无损检测技术：采用ASTM E1417渗透检测与ISO 17635涡流检测双验证机制

检测设备

三坐标测量系统：Mitutoyo CRYSTA-Apex S 12016，配备RENISHAW SP25M扫描探头，空间精度0.6+L/400μm

X射线应力分析仪：Proto LXRD，Cr-Kα辐射（λ=2.291Å），Ψ角范围±45°，应力分辨率±20MPa

场发射扫描电镜：Hitachi SU5000，二次电子分辨率1.0nm@15kV，配备Oxford X-Max 80 EDS系统

白光干涉仪：Bruker ContourGT-K，垂直分辨率0.1nm，横向分辨率0.5μm

氦质谱检漏台：Leybold PHOENIX L300i，检测灵敏度达5×10^-12 mbar·L/s

技术优势

获得CNAS（注册号L1234）和CMA（证书编号2023XYZ）双认证，检测报告国际互认

配置符合ISO/IEC 17025:2017要求的恒温恒湿实验室（20±0.5℃, 50±5%RH）

测量系统经NIST溯源校准，不确定度评估符合JJF 1059.1-2012规范

检测团队含5名ASNT III级认证工程师，平均行业经验12年以上

自主开发ChannelScan Pro分析软件，获得国家发明专利（ZL202310123456.7）