因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

接触电阻测试：量程0.1mΩ-10Ω，精度±0.5%+3字，测试电流DC 1A/10A（依据IEC 60512-2）

绝缘电阻测试：量程1MΩ-10TΩ，测试电压50V-1000V DC（符合ASTM D257-14）

回路电阻检测：分辨率0.01μΩ，四线法测量（参照IEEE Std 81-2012）

导通连续性验证：阈值设定0.5Ω-50Ω，响应时间≤100ms（依据ISO 17025:2017）

温漂系数分析：温度范围-40℃~+125℃，记录电阻值随温度变化率（按GB/T 2423.22-2012）

检测范围

金属导体材料：铜/铝导线、接插件端子，重点检测接触电阻与表面氧化影响

电子元器件：电阻器、继电器触点，验证标称阻值与温升特性

电力电缆：中高压电缆绝缘层，评估体积电阻率与老化程度

高分子绝缘材料：硅胶套管、环氧板材，测试表面泄漏电流与耐压特性

印刷电路板：导通孔/走线阻抗，检测镀层均匀性与微短路风险

检测方法

ASTM B539-20：金属接触电阻测试标准，规定电极压力20N±0.5N、接触面清洁度要求

ISO 2173:2020：绝缘材料电阻率测定，要求恒温恒湿箱控制23℃±1℃/50%RH±5%

IEC 62631-3-1:2016：介电材料体积电阻测量，明确电化时间≥60s、读数稳定标准

MIL-STD-202H：军标器件导通测试，规定100mA测试电流下的最大允许压降

JIS C3005:2019：线缆导体直流电阻检测，要求长度换算公式与温度补偿系数应用

检测设备

Keysight 34461A 6½位数字万用表：基本精度0.0035%，支持四线制电阻测量与数据记录

Fluke 1587 FC 绝缘测试仪：极化指数(PI)测试功能，电压步进0.1kV可调

HIOKI RM3548 微电阻计：最小分辨率0.01μΩ，内置温度补偿算法

Chroma 11050 高阻计：10^16Ω量程，三同轴接口消除漏电流干扰

MEGGER DET24C 接地电阻测试仪：自动频率切换技术，满足IEEE 81标准测试要求

技术优势

CNAS认可实验室（注册号L1234），检测报告国际互认

建立ISO/IEC 17025:2017质量管理体系，不确定度评估符合GUM规范

标准电阻器溯源至NIST，年校准偏差≤±0.002%

配备电磁屏蔽室（30dB@1MHz-1GHz），确保微欧级测量稳定性

检测团队持有IPC/NASA标准认证，具备航天级产品检测资质