因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

元素特征峰分析：X射线能量范围0.1-20keV（EDS检测），Kα/Lα谱线半峰宽≤130eV

有机物官能团鉴别：红外光谱检测范围4000-400cm⁻¹，特征峰强度重复性误差＜2%

晶体结构解析：XRD检测角度2θ范围5°-90°，晶面间距计算精度±0.001Å

同位素丰度测定：质谱检测质量范围10-2000Da，质量精度＜3ppm

表面化学态分析：XPS结合能检测范围0-1500eV，能量分辨率≤0.5eV

检测范围

金属及合金材料：包含铝合金、钛合金等材料的元素偏析与相组成分析

高分子聚合物：PET、PP等材料的官能团特征峰归属与结构确认

制药原料：活性药物成分（API）晶型鉴定与多态性分析

环境污染物

半导体材料：硅基材料掺杂浓度与晶格缺陷检测

检测方法

X射线衍射法（XRD）：依据ASTM E2627-19标准，采用θ-2θ扫描模式进行物相定量分析

傅里叶红外光谱法（FT-IR）：执行ISO 21543:2020标准，使用KBr压片法获取特征吸收谱

能量色散谱法（EDS）：参照ISO 22309:2011实施元素面分布与线扫描分析

X射线光电子能谱（XPS）：按ISO 18118:2015进行表面化学态深度剖析

飞行时间质谱（TOF-MS）：基于ASTM E2728-19标准完成高分子裂解产物鉴定

检测设备

Thermo Scientific Nicolet iS50 FT-IR：配备DTGS检测器，支持ATR附件快速检测液体/固体样品

Bruker D8 ADVANCE XRD：配置LynxEye阵列探测器，最小步长0.0001°的高精度测角仪

JEOL JSM-IT800 SEM-EDS：搭载Oxford X-MaxN 150mm²探头，实现低真空模式下元素Mapping

Kratos AXIS Supra XPS：集成磁透镜系统与单色Al Kα源，空间分辨率达3μm

Agilent 8900 ICP-MS/MS：三重四极杆设计，实现ppt级超痕量元素检测

技术优势

获得CNAS（注册号L1234）与CMA（证书编号2023XYZ001）双重认可资质

配置全系设备均通过NIST标准物质周期性校准验证

检测团队持有ISO/IEC 17025内审员资格认证，年均完成3000+标准品比对实验

建立涵盖ASTM/ISO/JIS等多国标准的数据库系统，支持自动峰位匹配分析

配备Class 1000洁净实验室环境，温控精度±0.5℃，湿度波动≤3%RH