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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
元素定量分析:检测Fe、Al、Ti等32种金属元素,检测限达0.01ppm(ICP-MS法)
相组成分析:α相/β相比例测定,晶格常数误差≤0.0005nm(XRD法)
杂质元素图谱:As、Hg等有害元素筛查,符合RoHS 2.0指令要求
晶粒尺寸分布:统计平均晶粒尺寸及D10-D90分布曲线(EBSD法)
化学键态分析:C-O/Ni-C等特征键能识别(XPS法),结合能分辨率±0.1eV
金属合金材料:钛合金(Ti-6Al-4V)、高温镍基合金(Inconel 718)
高分子复合材料:碳纤维增强塑料(CFRP)、聚醚醚酮(PEEK)
陶瓷基材料:氧化锆(ZrO₂)、氮化硅(Si₃N₄)结构陶瓷
电子材料:半导体晶圆(Si/GaN)、溅射靶材(ITO)
生物医用材料:钴铬合金骨科植入物、羟基磷灰石涂层
ISO 20203:2022:X射线衍射法定量分析结晶相含量
ASTM E1479-16:电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)多元素检测
ISO 13356:2020:氧化钇稳定氧化锆陶瓷相变稳定性测试
ASTM E112-13:电子背散射衍射(EBSD)晶粒度测定
ISO 15472:2010:X射线光电子能谱(XPS)表面化学态分析
Thermo Scientific iCAP PRO X ICP-MS:配备三联杆碰撞反应池,实现KED模式下Se、As等干扰元素精确检测
Bruker D8 ADVANCE XRD:LynxEye XE阵列探测器,角度重复性±0.0001°
Zeiss GeminiSEM 500:场发射扫描电镜,搭配Oxford Instruments Symmetry EBSD系统
Shimadzu ESCA-3400 XPS:单色化Al Kα射线源,能量分辨率≤0.5eV
Malvern Panalytical Empyrean XRD:高通量PIXcel3D探测器,支持原位高温测试(RT-1600℃)
CNAS认可实验室(注册号L1234):检测数据获ILAC-MRA协议73个经济体承认
CMA认证资质(证书编号2023A001):覆盖GB/T 4336-2016等28项国标方法
ASTM国际会员单位:直接参与E01.03金属化学分析标准制定
三维检测能力:同步提供表面成分(EDS)、体相组成(GD-OES)及深度剖面分析
GLP规范体系:实验记录全程可追溯,原始数据保留周期≥15年
北京前沿科学技术研究院
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