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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
介电常数测定:测量频率1kHz-1MHz,温度范围-50℃~150℃
介质损耗因子分析:精度±0.0001,测试电压100V-10kV
击穿电压测试:电压梯度0-100kV/mm,升压速率500V/s
体积电阻率测量:测量范围10^6-10^18Ω·cm,温度湿度双重控制
热稳定性评估:连续工作2000小时,温度循环-40℃~200℃
陶瓷介质材料:包括氧化铝陶瓷、钛酸钡基陶瓷等
高分子聚合物:聚四氟乙烯(PTFE)、聚酰亚胺(PI)薄膜
复合介质材料:玻璃纤维增强环氧树脂、纳米填料改性材料
半导体封装材料:有机硅凝胶、环氧模塑料
液态介质:变压器油、氟化液等冷却介质
ASTM D150:介电常数与损耗因数的平行板电极法
IEC 60243:固体绝缘材料击穿电压标准测试规程
ISO 1853:导电橡胶体积电阻率四探针测试法
JIS C2138:高温下介质损耗温度谱测试方法
GB/T 1409:高频下介质损耗角正切测量规范
Keysight E4990A阻抗分析仪:支持20Hz至120MHz宽频测量,配备16451B介电测试夹具
Hipotronics AC/DC耐压测试系统:输出0-100kV可调,集成安全互锁装置
Novocontrol Concept 80宽带介电谱仪:覆盖10μHz至40MHz超宽频率范围
Agilent 4338B兆欧表:最高测量量程10^18Ω,支持温控样品室
Thermo Scientific ESPEC热冲击试验箱:支持-70℃~+250℃快速温变测试
持有CNAS L12345实验室认可证书,检测数据国际互认
配备ISO/IEC 17025:2017认证的质量管理体系
20台套设备通过NIST可溯源校准,测量不确定度<0.5%
技术团队含5名IEC TC112专家委员,主导3项行业标准制定
与CE认证机构建立数据互认通道,检测报告全球通用