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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
1.元素浓度梯度测定:测量C、Si、Mn等主量元素在0.5-200μm范围内的浓度变化率(单位:wt%/μm)
2.相分布均匀性分析:定量α相/γ相面积占比(精度0.5%)及尺寸离散度(CV值≤15%)
3.晶界偏析系数计算:测定P、S等杂质元素在晶界处的富集因子(K值≥3.0视为异常)
4.微观硬度映射:维氏硬度HV0.01测试(载荷10gf,步长5μm)
5.扩散层厚度测量:采用EDS线扫描确定过渡区宽度(分辨率0.1μm)
1.金属合金:包括高强钢(HSLA)、镍基高温合金(Inconel718)、铝合金(6xxx系列)
2.半导体材料:硅晶圆掺杂层(B/P浓度1E15-1E20atoms/cm)、GaN外延片
3.高分子复合材料:碳纤维增强环氧树脂(CFRP)界面结合区
4.陶瓷材料:氧化锆增韧氧化铝(ZTA)晶界玻璃相分布
5.焊接接头:异种钢熔合区(如304L/碳钢)元素互扩散行为
1.ASTME1181-02(2020):电子探针微区分析标准规程
2.ISO22309:2011:能谱法成分定量分析技术规范
3.GB/T13298-2015:金属显微组织检验方法
4.GB/T17359-2023:电子背散射衍射分析方法
5.ISO14577-1:2015:仪器化纳米压痕测试标准
1.ThermoScientificARLiSpark8860直读光谱仪:用于宏观成分偏差快速筛查(精度0.005%)
2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:晶体取向与织构分析(角度分辨率0.0001)
3.JEOLJXA-8530F场发射电子探针:微区成分定量分析(束斑1μm,检出限50ppm)
4.ZeissGeminiSEM500场发射扫描电镜:配合EDS/EBSD进行亚微米级结构表征
5.ShimadzuHMV-G21显微硬度计:自动压痕定位与硬度梯度测量
6.OxfordInstrumentsUltimMax170能谱仪:大面积面扫描成分成像(像素分辨率≤50nm)
7.Agilent7900ICP-MS:痕量元素三维分布重构(检出限ppt级)
8.LeicaDM2700M智能金相显微镜:偏析缺陷可视化评级(符合ASTME112标准)
9.HitachiAFM5100N原子力显微镜:纳米尺度表面成分起伏分析
10.NetzschDIL402ExpedisClassic热膨胀仪:原位观察偏析导致的相变温度偏移
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。