因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

　　北京中科光析科学 技术研究所，可依据相应检测标准进行跌落试验、介电强度、环境模拟试验等各种机电元件检测服务，亦可根据客户需求设计方案，为客户提供非标检测服务。中析研究所有丰富的检测研发经验，可为您提供相关参考，帮您快速找准产品项目，高效快捷。

　　检测周期：7-15个工作日出具机电元件检测报告。

　　检测费用：样品初检后结合客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。

　　样品量大小：具体样品量需要根据客户的检测项目来决定，您可以咨询工程师。

检测项目

　　载流量、动态应力、静负载试验、耐久性、冲击试验、钎焊、过载试验、耐蚀性、抗震性、耐化学液体性能等。

检测标准列举

　　GB/T 4210-2015 电工术语 电子设备用机电元件

　　GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则

　　GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验

　　GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验

　　GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验

　　GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验

　　GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验

　　GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验

　　GB/T 5095.8-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验

　　GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验

　　GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第11部分：气候试验

　　GB/T 5095.12-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第12部分：锡焊试验 第六篇：试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂

　　GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第15部分：接触件和引出端的机械试验 第八篇：试验15h 接触件固定机构耐工具使用性

　　GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法

　　GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射

　　GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗

　　GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比

　　GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减(插入损耗)

　　GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减

　　GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延

检测报告作用

　　1.用作销售报告：出具正规第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量，让自己的产品更具有说服力;

　　2.研发使用：拥有优秀的检测工程师和先进的测试设备，可降低了研发成本，节约时间;

　　3.司法服务：协助相关部门检测产品，进行科研实验，为相关部门提供科学、公正、准确的检测数据;

　　4.大学论文：科研数据使用;

　　5.投标：检测周期短，同时所花费的费用较低，准确性较高;

　　6.工业问题诊断：较短时间内检测出产品问题点，以达到尽快止损的目的。

　　以上是关于机电元件检测相关介绍(试验/检测周期、方法和步骤具体以工程师为准，如样品特殊可和工程师交流沟通样品特殊性，为您设计合理的检测分析方案，节约您的时间)。