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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
几何均匀性:
1.薄型纳米钨涂层:厚度0.1-1mm,重点检测表面均匀性和粘着力
2.复合屏蔽板材:厚度1-10mm,侧重厚度分布和热稳定性
3.柔性屏蔽膜:厚度0.05-0.5mm,检测柔韧性和辐射屏蔽一致性
4.多层复合结构:各层厚度均一性,界面结合强度检测
5.高钨含量复合物:钨含量≥90wt%,成分偏差及屏蔽效率分析
6.低密度屏蔽层:密度≤6g/cm³,均匀性及机械性能评估
7.医用辐射防护材料:生物兼容性相关均匀性测试
8.工业用大型屏蔽板:尺寸≥1m²,厚度分布和热膨胀均匀性
9.纳米粒子分散体:粒子分布均匀度及聚集指数
10.定制化屏蔽组件:复杂几何形状的厚度和密度一致性
国际标准:
1.激光测厚仪:KEYENCELK-G5000型(分辨率0.1μm,量程0.05-10mm)
2.X射线荧光光谱仪:THERMOARLADVANT'X型(元素分析范围Na-U,精度0.01%)
3.扫描电子显微镜:JEOLJSM-7800F型(分辨率1nm,放大倍率×10-×300,000)
4.显微硬度计:MITUTOYOHM-210型(载荷0.01-2kgf,精度±2%)
5.热导率测试仪:NETZSCHLFA467型(温度范围RT-1000°C,精度±3%)
6.Gamma射线测试系统:AMPTEKXR-100T型(能量范围10-100keV)
7.万能材料试验机:SHIMADZUAGX-V型(载荷10N-10kN,精度±0.5%)
8.密度计:METTERTOLEDOXS204型(量程0.005-300g,精度0.0001g/cm³)
9.盐雾试验箱:EQ-SC-010型(温度控制±1°C,喷雾量1-2ml/80cm²/h)
10.中子辐射测试仪:LUDLUMMODEL42-49型(中子灵敏度0.5cps/nv)
11.热膨胀仪:NETZSCHDIL402C型(温度范围-150-1600°C,分辨率0.1μm)
12.FTIR光谱仪:PERKINELMERSPJianCeRUMTWO型(波数范围400-4000cm⁻¹)
13.表面轮廓仪:ZYGONewView™9000型(垂直分辨率0.1nm)
14.粒子计数器:BECKMANCOJianCeTERMJianCeTISIZER™4型(粒径范围0.4-1600μm)
15.辐射屏蔽效率测试台:定制系统(符合ANSIN42.47标准)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。