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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
热循环参数:
1. 电子元器件:集成电路、电阻电容等,重点检测焊点开裂、内部连接失效及电气参数漂移。
2. 汽车零部件:发动机传感器、密封件,侧重热疲劳裂纹、密封性能退化及温度冲击响应。
3. 航空航天结构:合金部件、复合材料,检测热膨胀失配、应力腐蚀及高温氧化。
4. 封装材料:芯片封装、PCB基板,关注界面分层、CTE匹配及机械强度衰减。
5. 金属焊接件:焊缝区域、接头,重点检测热循环裂纹、残余应力松弛及疲劳寿命。
6. 聚合物材料:塑料壳体、绝缘层,侧重变形量、老化脆化及绝缘性能变化。
7. 陶瓷元件:基板、传感器,检测热冲击断裂、微裂纹生成及尺寸稳定性。
8. 连接器组件:插头插座、端子,关注接触电阻漂移、机械松动及氧化腐蚀。
9. 涂层材料:防腐涂层、热障涂层,重点检测剥落、龟裂及附着力变化。
10. 光学器件:镜头、光纤,侧重热变形、光学性能漂移及密封失效。
国际标准:
1. 温度循环箱: ESPEC TSE-11A型(温度范围-70°C至180°C,精度±0.5°C)
2. 数据采集系统: Keysight 34972A型(采样率1MS/s,16通道)
3. 热像仪: FLIR T860型(分辨率640×480,测温范围-40°C至2000°C)
4. 万能试验机: INSTRON 5967型(载荷范围0.02kN-50kN,精度±0.5%)
5. 电阻测试仪: Keithley 2450型(测量范围0.1Ω至100MΩ,精度±0.1%)
6. 环境试验室: Weiss WK3-180型(湿度控制20%RH至98%RH,温度均匀度±1°C)
7. 光学显微镜: Olympus BX53M型(放大倍数50×-1000×,分辨率0.2μm)
8. 热膨胀仪: Netzsch DIL 402C型(CTE测量范围-150°C至1600°C,精度±0.1×10⁻⁶/K)
9. 冲击试验机: Zwick Roell HIT5.5P型(冲击能量0.5J-50J,精度±1%)
10. 光谱分析仪: Thermo Scientific ARL 3460型(元素检测限0.001%,波长范围165-800nm)
11. 疲劳试验系统: MTS 370型(频率范围0.01Hz-100Hz,载荷±100kN)
12. 温湿度记录仪: Rotronic HL-1D型(记录间隔1s,存储容量100000点)
13. 热应力分析仪: Dantec Dynamics Q-400型(应变测量精度±0.5με)
14. 电气参数测试仪: Agilent B1505A型(电压范围0V-3000V,电流范围1pA-100A)
15. 振动台: LDS V964型(频率范围5Hz-5000Hz,加速度10g)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。