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滤波器检测

原创版权 关键字:滤波器测试周期,滤波器测试标准,滤波器测试方法 相关: 发布时间: 2025-06-16 18:24:35

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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

频域特性检测:

  • 插入损耗:通带最大值≤1.2dB@25℃,波动范围±0.3dB
  • 带外抑制:阻带衰减≥60dBc@fc±10%(参照MIL-F-15733RevG)
  • 电压驻波比:输入/输出端VSWR≤1.5:1(50Ω系统)
时域特性检测:
  • 群时延波动:通带内≤±5ns(GJB9203-2017)
  • 上升时间:阶跃响应≤50ns(3dB带宽≥7MHz)
功率耐受检测:
  • 连续波功率:额定功率+3dB驱动2小时无性能退化
  • 峰值功率:承受10倍额定功率(脉宽1μs,PRF1kHz)
环境适应性检测:
  • 温度循环:-55℃↔+125℃100次循环,△IL≤0.5dB
  • 机械振动:10Hz~2000Hz/20g三轴扫描,结构无失效
防护性能检测:
  • 盐雾试验:96小时中性盐雾,腐蚀面积≤0.1%
  • 密封性检测:氦质谱检漏≤1×10-9Pa·m³/s
电气安全检测:
  • 绝缘电阻:输入输出间≥1000MΩ@500VDC
  • 耐压强度:AC1500V/60s无击穿(IEC60601-1)
结构特性检测:
  • 相位一致性:多通道间相位差≤±5°(阵列滤波器)
  • 温度漂移:-40℃~+85℃中心频偏≤±100ppm
电磁兼容检测:
  • 辐射敏感度:10V/m场强下带内波动≤0.5dB
  • 传导发射:CE102测试≤34dBμV(30Hz~10MHz)
材料成分检测:
  • 介质瓷料:BaTiO3纯度≥99.95%(EDS分析)
  • 镀层厚度:Au层≥1.27μm(XRF测试)
微观结构检测:
  • 电极共烧:界面扩散层≤2μm(SEM观测)
  • 晶粒尺寸:平均粒径0.8±0.2μm(EBSD分析)

检测范围

1.LC滤波器:检测重点为Q值稳定性(≥80@1MHz)与温漂系数(≤±30ppm/℃)

2.介质滤波器:验证介电常数(εr=38±0.5)与温度特性(τf≤±5ppm/℃)

3.声表面波滤波器:关键检测插入损耗(≤18dB)与二次反射抑制(≥40dB)

4.腔体滤波器:着重无载Q值(≥10000)与功率容量(≥500WCW)验证

5.晶体滤波器:检测带内纹波(≤0.5dBpp)与阻带抑制(≥70dB)

6.微波单片滤波器:评估芯片剪切强度(≥50gf)与金丝键合拉力(≥3gf)

7.可调谐滤波器:测试调谐范围(≥1octave)与切换时间(≤50μs)

8.抗EMI滤波器:验证共模插损(≥40dB@1MHz)与差模插损(≥20dB@100kHz)

9.光子晶体滤波器:检测波长精度(±0.2nm)与隔离度(≥30dB)

10.高温超导滤波器:关键验证77K温度下插损(≤0.2dB)与功率耐受(≥20dBm)

检测方法

国际标准:

  • IEC60368-4声表面波滤波器测试方法
  • MIL-STD-202G电子元器件环境试验方法
  • IPC-TM-6502.5.5.3介质材料介电常数测试
  • EN133200射频连接器滤波器分规范
  • JISC6441陶瓷介质滤波器试验方法
国家标准:
  • GB/T15135-2017声表面波器件测量方法
  • GJB360B-2009电子及电气元件试验方法
  • SJ21454-2018微波介质谐振器测量规程
  • GB/T11313.41-2018射频连接器第41部分滤波器测量
  • GJB548B-2021微电子器件试验方法(适用MMIC滤波器)
方法差异说明:GJB360B高温存储(125℃/1000h)严于IEC60068-2-2(85℃/1000h);MIL-STD-202G机械冲击(1500g/0.5ms)烈度高于GB/T2423.5(500g/11ms)

检测设备

1.矢量网络分析仪:KeysightN5227B(频率范围10MHz~67GHz,动态范围140dB)

2.频谱分析仪:R&SFSW67(分析带宽510MHz,相位噪声-140dBc/Hz@10kHz)

3.高低温试验箱:ESPECT-242(温变速率15℃/min,范围-70℃~+180℃)

4.振动试验系统:LDSV964(推力98kN,频率范围5Hz~3000Hz)

5.功率放大器:AR1000W1000(1kWCW,DC~1GHz)

6.粒子碰撞噪声检测仪:DageXD7600(分辨率0.1μm,检出微粒≥25μm)

7.扫描电子显微镜:ZEISSSigma500(分辨率0.8nm@15kV,EDS探测器)

8.X射线荧光光谱仪:ThermoARLQUANT'X(检测限1ppm,膜厚精度±2%)

9.介质参数测试仪:r精度±0.5%)

10.激光干涉仪:ZygoDynafiz(位移分辨率0.1nm,频率范围DC~25kHz)

11.氦质谱检漏仪:LeyboldJianCe2000(最小可检漏率5×10-13Pa·m³/s)

12.静电放电模拟器:

13.时域反射计:TektronixDSA8300(采样率200GS/s,上升时间7ps)

14.相位噪声测试仪:Symmetricom5125A(灵敏度-190dBc/Hz)

15.精密LCR表:WayneKerr6500B(基本精度0.05%,测试频率20Hz~30MHz)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

本文链接:https://www.yjser.com/cailiaojiance/1531.html

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